MAX9979完全集成的高性能、双通道引脚电子，在单芯片IC内集成了多项自动测试设备(ATE)功能，其中包括：驱动器/比较器/负载(DCL)、参数测量单元(PMU)和内部(16位)电平设置数/模转换器(DAC)。该器件可理想用于存储器、SOC测试系统。每个通道包含四电平引脚驱动器、窗口比较器、差分比较器、动态箝位、通用PMU、有源负载、高压(VHH)可编程电平和14个独立电平设置的DAC。MAX9979在驱动器输出和比较器输入端具有可编程电缆衰减补偿，可调节驱动器输出电阻能够在典型的数据通道传输线发生变化时优化性能，可调节摆率、设置高压驱动器输出。

MAX9979驱动器具有8V (-1.5V至+6.5V)较宽的工作电压范围和高达+13V VHH的可编程范围。工作模式包括高阻、有源端接(第3级驱动)和VHH(第四级驱动)模式。该器件即使在低电压摆幅下也具有很高的线性度。驱动器可提供高速差分控制输入，兼容与绝大多数高速逻辑。窗比较器在整个摆率、脉宽和过驱动电压范围内保持极低的定时变化。高阻模式下，MAX9979提供动态箝位，可为高速被测器件(DUT)的波形提供阻尼。20mA有源负载与比较器配合使用可简化快速连接测试，此时负载作为漏极开路/集电极开路DUT输出的上拉/下拉电阻。PMU提供±2µA至±50mA五个电流范围，能够驱动并测量电流或电压。通过SPI™兼容的串行接口配置MAX9979。

MAX9979提供微小的68引脚(10mm x 10mm x 1mm) TQFN-EP-IDP封装，顶部带有裸焊盘易于散热。在整个工作电压范围内并关闭有源负载时，每个通道的功耗为1.2W (典型)。MAX9979工作在-40°C至+100°C温度范围，提供温度监测输出。