ADATE324是一款完整的单芯片、四通道自动测试设备(ATE)解决方案，用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)的引脚电子(PE)功能。该器件还具有每芯片高电压(VHH)驱动能力以支持闪存测试应用。集成片内校准寄存器的专用16位数模转换器(DAC)可提供器件工作所需的所有直流电平。

电压驱动器提供三种有源状态：高、低和端接模式，以及一种高阻抗抑制状态。当驱动器未对此线路进行有源端接时，抑制状态以及集成动态箝位有利于传输线路反射的显著衰减。开路驱动能力为−1.5 V至+4.5 V，支持各种标准自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

ADATE324可用作四通道、单端引脚电子通道或双通道差分通道。除了每通道高速窗口比较器之外，ADATE324提供两个适合差分ATE应用的可编程阈值差分比较器。

用于DCL功能的所有直流电平都由专用片内16位DAC产生。为了支持精确的编程电平，ADATE324还集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和偏置误差。校正系数可以存储在片内，写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

ADATE324使用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。该器件还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路，用于监控和报告器件温度，以及工作期间可能发生的任何输出引脚电压故障。

欲了解有关ADATE324的更多信息，请联系 ADATE324@analog.com。

应用

• ATE
• 半导体和电路板测试系统
• 仪器仪表和表征设备